日本电子JEM-2100F透射(TEM-UHR型)
配有扫描透射(STEM)装置,能量色散X射线光谱仪(EDS)装置和CCD相机
设备技术参数:
电子枪加速电压:高200KV
放大倍数:20000-1500000; 放大倍数误差≤±10%;
分辨率:点分辨率:0.19nm; 晶格分辨率:0.1nm;
扫描透射分辨率: 0.20nm。
制样设备:
1.Tenupol-5电解双喷减薄仪;
2.PIPS II695精密离子减薄仪;
3.IsoMet 4000精密切割机
应用领域
用于合金、半导体、纳米粉末、涂层等材料的研究,能在原子尺度上表征他们的显微组织形貌和微观结构,探索材料微观世界的奥妙,并能对内部的不同物相进行电子衍射分析,确定其晶体结构,同时还可以对材料的化学成分进行定性和半定量分析。